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超声波扫描(C-SAM)分析
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超声波扫描(C-SAM)分析

利用超声波脉冲检测样品内部的空隙、气泡等缺陷。

可用于观察PCB、组件内部的芯片粘接失效、分层、裂纹、夹杂物、空洞等。


分辨率: 50~100μm  

探头频率: 15MHz/30MHz50MHz/230MHz

扫描模式: 传输时间测量模式(A-Scan)

表面及横向截面扫描模式(C-Scan)

纵向截面成像模式(B-Scan)

透射扫描(T-Scan,15MHz/30MHz探头)


优尔鸿信检测技术有限公司
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优尔鸿信检测技术有限公司(富士康华南检测中心)成立于1996年,成都检测中心主要分支之一,是世界500强企业之一富士康科技集团为配合高科技电子产品生产过程中的检测需求而组建的高科技检测实验室。

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